结构类型：四轴扫描架、大行程四轴扫描架以及倒T型/水平结构的扫描架。这些不同的结构设计是为了适应不同尺寸、频率和类型的待测天线。

应用场景：

1. 大型扫描架通常安装在覆盖有吸波材料的微波暗室中，以消除环境反射，模拟自由空间环境。
   
2. 小型或桌面式扫描架则适用于实验室环境，对小型天线或部件进行快速测试。
   

1. 平面扫描 (Planar)
   • 原理：探头在一个平坦的二维平面上进行光栅式扫描。
   • 适用对象：主要用于测试高增益、窄波束的天线，如抛物面天线、相控阵天线等。
   • 采样要求：为了保证数据准确性，采样间隔（Δx, Δy）通常需要满足 Δx = Δy ≤ λ/2（λ为波长）。
2. 柱面扫描 (Cylindrical)
   • 原理：探头在一个圆柱面上进行扫描，通常由线性扫描和旋转运动组合而成。
   • 适用对象：适用于测试在某个平面内具有全向或宽波束特性的天线，例如基站天线。
3. 球面扫描 (Spherical)
   • 原理：探头在一个球面上进行扫描，能够最完整地采集天线的辐射信息。
   • 适用对象：适用于测试全向天线或需要获取完整三维辐射方向图的天线。

       第一步：近场测量 (Measurement of near field)

探头天线在待测天线（AUT）前方的扫描平面上，逐点采集电磁场的幅度和相位信息。

将采集到的空间域近场数据，通过傅里叶变换等数学方法，转换到频谱域（或称波谱域）。